16.Defects

坏点检测，亮暗环境全天候识别

 

Definition:

相同的光照条件下，如果一个pixel与相邻像素的差值大于或小于阈值，则定义此像素为defect pixel。

 

Singlet:  在相同的color chanel中，无相邻defect pixel的独立defect pixel，定义为siglet。

 

Couplet: 相同的color channel中，相邻的两个defect pixel，且周围无第三个defect pixel与其相邻，定义为couplet。

 

Ladder:  整帧图像中，同一行中相邻但不同channel的两个相邻defect pixel，定义为ladder。

 

Cluster:  相同channel中，三个或三个以上相邻的defect pixel定义为cluster。

 

列如：

测试准备条件

使用上节SET1及SET5中的实验方法正确搭建拍照环境，拍摄所需图片。实验室测试中，仅使用SET1中D50色温即可。

需注意测试目标需要是加diffuser的透射式flat field光源或类似设备，此实验中不可使用反射式灰卡。

 

Light condition:

Defect pixel: 在相同的color channel中，若一个pixel与相邻5×5 像素均值（不包括待测pixel）的差值超过x%，则定义该pixel为 defect pixel。

Dark condition:

Defect pixel: 在相同的color channel中，若一个pixel与相邻5×5 像素均值（不包括待测pixel）的差值超过x DN (10bit)，则定义该pixel为 defect pixel。

Defect row: 在相同的color channel中，若某row与相邻4 rows（以待测row为中心每侧2 rows）均值的差值超过x DN (10bit)，则定义该row为 defect row。

Defect column: 在相同的color channel中，若某column与相邻4 columns（以待测column为中心每侧2 columns）均值的差值超过x DN (10bit)，则定义该column为 defect column。

 

Specification limit:

 

Defect type	Limits with DPC off	Limits with DPC on	Comments
Singlets	1000 or TBD	0	Mapped defect correction is on if equipped.
Couplets	0	0
Clusters	0	0
Defect rows	0	0
Defect columns	0	0