今天IRmono1.6beta更新，加入了结构光点斑信号水平质量的检测。
STL_spotsSNR 和STL_spotsCTF的characterization检测spots的信号质量水平及稳定性以及与背景能量间的反差情况，分析结构光的spots经过发射，发射，红外摄像头成像后的信号水准，结合其他相关项目分析整体性能，也可用来分析不同功率下的信号状态变化。
这个比较新，现在真正大规模量产的也就iphoneX。 深入细致的分析和测试是很重要的， 否则只是拿几块白板在不同距离下测个相对精度或者甚至绝对精度的最终检测方式的话，可能产能想要很高，这个会有困难，至少浪费较大。 比如最后才测试，比如DOE不良， 最后测出来问题浪费了一个结构光模组， 很贵的哟，如果能提前发现，扔掉的只是便宜的DOE。 当然这只是举个例，因为想这个测试还需要专门独立验证， 基于系统的测试和部件的测试做的深入才能及时发现坑，免得最后麻烦。
比如下面这个结构光点斑的信号SNR水平来讲还算不错，虽然中间有双峰，但是周边信号水准差的没那么多，算法可以通过local的方式进行更精确的点斑检测用以计算深度。 但是如果这个图形值更低，或者某个局部比其他差异很大，那就麻烦，这样局部的深度计算就会遇到问题。
更多结构光的内容我们也可以根据不同方案进行定制的验证。