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IRmono : 

第一款专门用于红外相机和黑白相机的研发和测试软件，助力新一代手机前置人脸识别和解锁方案对性能的高需求.光电性能一览无余，深度掌握细节。

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主要测试功能模块概述：（具体模块介绍请浏览功能模块介绍相关文章）

SFR Super Chart

量子光影自研的高端清晰度测试方案，利用Grids SFR 测量整副画面高达200个区域以上的SFR数据用以分析画面整体清晰度水平和一致性分布性能。

同时具备焦距EFL，视场角FOV的测试能力基于此模块。

 

SFR Silver & Boards

利用经典的棋盘Chart对SFR进行测量，快速方便分析摄像头成像整体画面的清晰度水平。

 

SFR Acutance Map

输出SFR和Acutance数据的3D Map图形，可以非常快速的了解到摄像头拍照的清晰度情况，方便快速分析问题，尤其对local blur问题的分析很方便。

 

ThroughFocus_SFR

重要的重要的重要的（说三遍）离焦曲线测试，模拟光学设计软件Zemax或Codve的MTF ThroughFocus 仿真分析方法，该测试结果对于分析整体光学性能，对焦性能，模组生产工艺公差问题等有非常重要的作用。

 

System RI

模组级别的相对照度测量，分析四周和中心的能量衰减情况，以及对四周shading，噪声，算法补偿，工艺精度（光学中心）等问题的分析。

 

Uniformities

测量摄像头的光学中心以及对称性能，是分析摄像头生产及组装工艺公差的主要方法，确保一致性，才有高品质。

 

Distortion

测量镜头的畸变大小

 

Blemish

测量摄像头内部是否存在异物及其大小，确保品质，保证不能发生被人眼察觉到内部有脏东西的情况。

 

OETC

光电转换曲线测试，精确测量图像传感器（CCD，CMOS）的性能，深入的底层的像素性能，包括传感器的满阱电子数量（FWC），动态范围（DR），读出噪声（RN），光电响应非一致性能（PRNU）和各种噪声成分（固定图像噪声FPN，总噪声TotalNoise, 随机噪声TN，以及光子冲击噪声ShotNoise）

该项测试重在分析传感器像素的性能，确保高品质的像素的传感器。

 

Noise Test

采用数学和统计原理，计算图像传感器（CMOS，CCD）的噪声情况，可用于产线和实验室级别的方法，测量FPN，Tempoeral Noise， ReadNoise在不同光照环境下的噪声情况。

精益求精对细节的深度挖掘和把控才能做到极致的相机。

 

Linearity

信号线性度测试，确保摄像头曝光等重要性能的正常运行，同时测量maxSNR分析摄像头的极限信噪比或动态范围，也可以测量baseISO分析摄像头灵敏度情况。

 

QE RI Simulation

采用光谱分析的方法，在设计阶段分析摄像头整个系统的光谱性能，确保设计最优化。

 

Defects

坏点检测， 测量摄像头在不同环境下的坏点性能，确保其坏点可以在后端通过ISP处理掉，不能有严重坏点影响到图像处理造成最终效果的衰减问题。

 

Pedestal

黑电平测量，确保传感器质量和摄像头工作稳定，不受外界和发热造成图像质量下降的情况。

 

OECF20 & 36

测量系统过后的视觉噪声和视觉动态范围。

 

 

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